标题:机组电池早期容量损失与解决方案
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机组电池早期容量损失与解决方案
随着铅钙合金板栅的采用,机组电池(机组蓄电池)的深放电循环寿命大幅下降到20—25个循环。这种现象最初被称为“无梯效应”,后来称为“早期容量损失”。已经确定PCL效应是正极板上进行的某些反应造成的,更确切地说,是在板栅/正极活性物质界面发生的反应,以及在正极活性物质内部发生的反应。
界面上的容量限制效应可归因于以下几点。在机组电池(机组蓄电池)充电与过充期间,正极板表面析出的氧气穿透板栅的腐蚀层,将板栅表面氧化成PbO。生成的PbO电阻非常高。PbO被继续氧化成PbO,接着被氧化成Pb02。如果PbO的生成速率高于PbO氧化成Pb02的速率,板栅表面则形成一层厚的高电阻PbO,导致放电时极板高度极化,最终导致容量损失。板栅合金中的锡 和梯被证明可以加快PbO氧化成Pb02 ,能够抑制。PCL -2效应在千正极活性物质中Pb02颗粒间连接部位(狭区)受损的电导受损。板栅合金中锡与铩可以加强颗粒间的连接。因此,为避免PCL效应,深循环机组电池(机组蓄电池)正极板栅的铅钙合金中有必要加入高于1.2%含量的锡。
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