标题：机组电池早期容量损失与解决方案

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机组电池早期容量损失与解决方案

随着铅钙合金板栅的采用，机组电池（机组蓄电池）的深放电循环寿命大幅下降到20—25个循环。这种现象最初被称为“无梯效应”，后来称为“早期容量损失”。已经确定PCL效应是正极板上进行的某些反应造成的，更确切地说，是在板栅/正极活性物质界面发生的反应，以及在正极活性物质内部发生的反应。

界面上的容量限制效应可归因于以下几点。在机组电池（机组蓄电池）充电与过充期间，正极板表面析出的氧气穿透板栅的腐蚀层，将板栅表面氧化成PbO。生成的PbO电阻非常高。PbO被继续氧化成PbO，接着被氧化成Pb0₂。如果PbO的生成速率高于PbO氧化成Pb0₂的速率，板栅表面则形成一层厚的高电阻PbO,导致放电时极板高度极化，最终导致容量损失。板栅合金中的锡 和梯被证明可以加快PbO氧化成Pb02 ,能够抑制。PCL -2效应在千正极活性物质中Pb02颗粒间连接部位（狭区）受损的电导受损。板栅合金中锡与铩可以加强颗粒间的连接。因此，为避免PCL效应，深循环机组电池（机组蓄电池）正极板栅的铅钙合金中有必要加入高于1.2％含量的锡。